Universität Innsbruck
Ein Hydraulikaggregat dient zum Betreiben von hydraulischen Pressen. Hydraulische Pressen dienen zur gezielten Lastaufbringung auf...
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Es handelt sich um eine Anlage für die Digitalisierung von losen Blattsammlungen. Lose Blätter, die...
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Scanning Laser-Doppler-Vibrometer Polytec PSV 500-A "Xtra Acoustics Compact" mit PSV-F-500 Front-End zur flächenhaften Messung der...
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Das REM wird angewandt für die bildliche Darstellung und Untersuchung von oberflächlichen (Mikro-) Strukturen fester...
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Qualitative und quantitative Phasenanalyse, Reaktionsabläufe bis 1500 °C an Luft, Reaktionsabläufe bis 1000 °C unter...
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Tieftemperatur-Röntgendiffraktometer ausgestattet mit einer Probenkammer, die Messungen im Temperaturbereich von -260°C bis +100°C ermöglicht. Geeignet...
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Panalytica Röntgendiffraktometer Empyrean Theta Röntgendiffraktometer zur Untersuchung der mineralischen Zusammensetzung von Proben bis zu einer...
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Oberflächen- und Materialanalyse: Chemische Zusammensetzung und Tiefenprofile mit Auflösung im nm-Bereich, Ortsauflösung (lateral) ca. 100...
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Über die Auswertung der Reflexintensitäten der gebeugten Röntgenstrahlung kann die atomare Struktur kristalliner Stoffe bestimmt...
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Hochleistungsgerät für die Synthese von RNA
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Röntgenpulverdiffraktometer zur Phasenanalyse mit Probenwechslern für Hochdurchsatz.
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Beim RiCOPTER VUX-1LR System handelt es sich um ein ULFZ (Unbemanntes Luftfahrzeug; RiCopter) der Klasse...
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IncuCyte S3 ist eine nicht-invasive Live-Cell-Imaging- und Analyse-Plattform, die erlaubt, das Verhalten von Zellen über...
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Hierbei handelt es sich um eine Vakuum-Kammer mit einer 3D Paul-Falle zur Speicherung von Ionen....
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Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und...
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Oberflächenabb. und Charakterisierung mechanischer und elektronischer Oberflächeneigenschaften
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Das ZEISS EVO 10 bietet erstklassiges Imaging von leitfähigen Proben im High-Vacuum-(HV)-Modus für Proben bis...
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Tescan Clara Scanning Electron Microscope zusätzliches Equipment: - OnPoint Detector (GATAN) - Ultim Max EDS...
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Rasterelektronenmikroskop mit EXD zur Strukturaufklärung
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JSM-7610F - FE-REM Schottky Feld Emissions Rasterelektronenmikroskop für Nanotechnologie Mit dem Rasterelektronenmikroskop können kleinste Strukturen...
