Short Description
Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und in Lösungsmitteln möglich. Eine Modul zur Temperaturregelung ist vorhanden, ebenso der QI-Mode und der FastScan Mode von JPK. Anwendungen sind: Untersuchung des Einflusses mechanischer Kraft auf einzelne Moleküle, insbesondere mit Fokus auf Abrisskräfte und Dissoziationskinetiken ausgewählter chemischer Verbindungen anhand von Rasterkraftmikroskopie; Hochauflösende Bilder von z.B. Oberflächen und Bioproben.
Contact Person
Univ.-Prof. Martin Beyer
Research Services
- Einzelmolekülkraftspektroskopie
- Abbilden von Oberflächenstrukturen
- Quantitatives Imaging (Abbildung unter Berücksichtigung der Elastizität der Oberfläche mit dem QI-Mode des Geräts)
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Das Rasterkraftmikroskop wird vorrangig für die Einzelmolekülkraftspektroskopie von kovalenten Bindungen eingesetzt. Dabei kommen die Methoden des Force-Ramp und Force-Clamp zum Einsatz. Im Rahmen von Kooperationen werden auch biologische Proben und Materialproben untersucht.
M. S. Sammon, M. Biewend, P. Michael, S. Schirra, M. Ončák, W. H. Binder, M. K. Beyer: Activation of a Copper Biscarbene Mechano-Catalyst Using Single-Molecule Force Spectroscopy Supported by Quantum Chemical Calculations. Chem. Eur. J. 27, 8723-8729 (2021). DOI: 10.1002/chem.202100555