Short Description
Instrument zur Oberflächen- und Mikrostrukturcharakterisierung sowie zur Präparation von ort-spezifischen Proben im Mikrometerbereich mittels Ionenstrahl. Neben der Ionensäule, die eine zielgenaue Präparation von Gefügebestandteilen zur weiteren mikrostrukturellen, mechanischen oder chemischen Analyse ermöglicht, verfügt das Mikroskop über eine Elektronensäule, die eine stufenlose Regelung von Beschleunigungsspannung und Probenstrom ermöglicht.
Contact Person
Gerhard Hawranek
Research Services
Das Gerät kann für Forschungsdienstleistungen für Gefügeuntersuchungen mittels REM und EDX genutzt werden, sowie für die FIB-Präparation von Proben für TEM- und APT-Untersuchungen. Darüber hinaus können Proben für mikromechanische Versuche hergestellt werden.
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Das FIB Tescan Amber wird neben den analytischen Aufgaben für eine Automatisierung der Probenpräparation für die Atomsondentomografie und Transmissionselektronenmikroskopie eingesetzt. Die Präparation von Atomsondenspitzen und TEM-Lamellen wird durch Einsatz eines fs-Lasers unterstützt, und das Tescan Amber zur finalen Dünnung eingesetzt. Mit dem Tescan Amber ist ein direkter Koordinatentransfer vom fs-Laser auf das FIB möglich, was die Automatisierung der FIB Präparation weiter erleichtert.