Short Description
Rasterelektronenmikroskop zur Aufnahme von hochauflösenden Bildern, chemischen Analyse und Phasenanalyse
Contact Person
Prof. Frank Melcher
Research Services
Rasterelektronenmikroskop zur Aufnahme von hochauflösenden Bildern, chemischen Analysen und Phasenanalyse
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Das Rasterelektronenmikroskop ermöglicht die Bildaufnahme (Sekundärelektronenbilder und Rückstreuelektronenbilder) von festen Materialien im Niedrig- und Hochvakuumbereich. Standardmäßig werden polierte Anschliffe und polierte petrographische Dünnschliffe (28x48 mm) verwendet, aber es sind auch Halter für andere Probengrößen vorhanden. Das energiedispersive Röntgenanalysensystem von Bruker ermöglicht eine Detektion der Elemente ab Ordnungszahl 8 (Sauerstoff) entweder standardfrei (semiquantitativ) oder auch standardbasiert (quantitativ). Eine Zusatzsoftware (Smart PI) wird zur quantitativen Bestimmung der mineralogischen Zusammensetzung verwendet.