Short Description
Zur Charakterisierung von Materialien mit nahezu atomarer Auflösung eignet sich insbesondere die Atomsondentomographie. Für derartige Untersuchungen stehen eine Atomsonde vom Typ LEAP 5000 XR von Cameca Inc. zur Verfügung.
Bei der Atomsonden-Tomographie wird an eine Spitze mit einem Spitzenradius von 20-50 nm eine Gleichspannung von einigen Kilovolt (5-15 kV) angelegt. Durch einen überlagerten Spannungs- oder Laserimpuls werden Atome von der Oberfläche durch den Effekt der Feldverdampfung abgetragen und auf einen positionssensitiven Detektor beschleunigt. Dabei werden die Flugzeit sowie die Koordinaten der Auftreffpunkte aufgezeichnet, wodurch eine 3D-Rückkonstruktion der abgetragenen Spitze mit Informationen zur lokalen chemischen Zusammensetzung ermöglicht wird. Nahezu alle Elemente des Periodensystems können von einer Atomsonde detektiert werden. Durch die Verwendung eines Laserimpulses können auch Materialien mit schlechter elektrischer Leitfähigkeit untersucht werden. Vor allem der UV Laser (Wellenlänge: 355 nm) der neueren LEAP 5000 XR ermöglicht auch Untersuchungen an hochkomplexen Werkstoffen sowie an keramischen und geologischen Materialien.
Contact Person
Ronald Schnitzer
Research Services
Bei Interesse an Forschungsdienstleistungen zur Atomsondentomographie bitte wir mit uns in Kontakt zu treten.
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Hochauflösende Charakterisierung der Nanostruktur von Werkstoffen.