Kurzbeschreibung
Jeol 6610 LV (Low- und High-Vacuum-Modus) Sekundär und Rückstreu-Elektronen-Detektoren.
Kohlenstoffbedampfung und Gold-Sputterung
Oxford 50mm2 EDS- und WDS-Spektrometer (Standards für alle messbaren natürlichen Elemente)
Kathodoluminiszenz
Ansprechperson
Mag. Dr. Hans-Peter Bojar
Research Services
• Erstellung von Rasterelektronemikroskopabbildungen SE und BSE im High-Vacuum-Modus und BSE im Low-Vacuum-Mode
• Qualitative Analytik an Körnerpräparaten
• Quantitative standardisierte Analytik von Schliffen, Elementverteilungsbilder
• Anfertigung von polierten Schliffen und Mikroschliffen (Aluminium, Messinghülsen, Kunstharzeinbettung, Vakuumimprägnation, …)
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Ultrastruktur-Analysen und Anfertigung von Abbildungen.
Bestimmung der chemischen Zusammensetzung mittels EDX- und WDX-Analytik am Raster-Elektronenmikroskop