Kurzbeschreibung
Rasterkraftmikroskop
Ansprechperson
Univ.-Prof. Dr. Sabine Hild
Research Services
Probenmessungen von Oberflächen mit verschiedenen AFM Techniken
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Oberflächenmessungen, Messforschung, Probenvorbereitung, Schülerpraktika
Gründliche Einschulung oder Benutzung durch geschulte Mitarbeiter des IPS
Lenzing, MPI Düsseldorf, Uni Ulm, Borealis, Sony, Voest, Poloplast, Engel, Stalim, Eternit, Agfa, Wacker, Profactor
H-Hunt (CEST/Voest), IPPCO (CEST/Voest), Micro Mak (Teufelberger), APMT