Kurzbeschreibung
Ein Elektronendiffraktometer basierend auf einem 1M JUNGRAU ladungsintegrierendem Detektor (PSI/CH, siehe DOI 10.1088/1748-0221/20/12/C12007) und einem Transmissionselektronenmikroskop JEM2100plus (JEOL). Der Detektor misst mit 2000Hz und hat einen sehr hohen linearen dynamischen Bereich. Das Gerät dient primär der Einkristallstrukturbestimmung durch 3D Elektronenbeugung. Ein Probenhalter ELSA698 steht zur Verfügung, mit dem sowohl bei Raumtemperatur als unter Kühlung bis zu 100K gemessen werden kann.
Ansprechperson
Tim Gruene
Research Services
Einkristallstrukturanalyse. Mikroskopie im mittleren und oberen Nanometerbereich.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Einkristallstrukturbestimmung aus Kristallen mit submikrometer Ausmass. Experimentelle Bestimmung partieller Ladungen von Atomen in Molekülen (siehe Mahmoudi et al, Nature (2025), DOI 10.1038/s41586-025-09405-0)
Ferjaoui, K. and Takaba, K. and Gruene, T. and Fröjdh, E. and Bergamaschi, A. and Brückner, M. and Carulla, M. and Dinapoli, R. and Ebner, S. and Gautam, V. and Greiffenberg, D. and Hasanaj, S. and Heymes, J. and Hinger, V. and Hürst, M. and Kedych, V. and King, T. and Li, S. and Leonarski, F. and Lopez-Cuenca, C. and Mazzoleni, A. and Mezza, D. and Moustakas, K. and Mozzanica, A. and Mulvey, J. and Müller, M. and Paton, K. A. and Posada Soto, C. and Ruder, C. and Schmitt, B. and Sieberer, P. and Silletta, S. and Thattil, D. and Xie, X. and Zhang, J. A 1 Megapixel charge integrating hybrid pixel detector for electron diffraction J. Instrum., 2025, 20, C12007, http://doi.org/10.1088/1748-0221/20/12/C12007