AIT Austrian Institute of Technology GmbH
Braunau am Inn - Ranshofen | Website
Kurzbeschreibung
Mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop kann die Mikrostruktur von Leichtmetallen bis in den Nano-Bereich analysiert werden, weiters ist die Untersuchung der lokalen chemischen Zusammensetzung, Kristallstruktur und -orientierung von Grundmaterial und intermetallischen Phasen (EDX, EBSD) möglich.
Ansprechperson
Dr. Johannes Österreicher
Research Services
• Metallographische Untersuchungen
• Schadensanalyse
• Phasenidentifikation
• Dispersoidquantifizierung
• Texturanalyse mittels EBSD
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Technische Daten
Hersteller: Tescan
Schottky-Feldemissions-Elektronenquelle - höchste Auflösung
Detektoren:
• 4-Quadranten-Halbleiter-Rückstreuelektronendetekor
• Everhart-Thornley-Detektor
• InLens-Sekundärelektronendetektor
• Gatan OnPoint Rückstreuelektronendetektor für niedrige Beschleunigungsspannungen
• EDAX Octane Elect EDX-Detektor (energiedispersive Röntgenspektroskopie, 70 mm² SDD)
EDAX Velocity Super EBSD-Kamera: Elektronenrückstreubeugung