Kurzbeschreibung
Das VistaScope 75 kombiniert Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit photoinduzierten Kräften (PiF), um chemische und Oberflächenmessungen von organischen und anorganischen Feststoff- und Dünnschichtproben zu ermöglichen. Das AFM ermöglicht Messungen im Kontaktmodus, "Tapping"-Modus, KPFM oder EFM. Die laterale Auflösung des chemischen Mappings liegt unter 5 nm und die spektrale Auflösung bei 2 cm-1.
Ansprechperson
Dr. Katerina Resch-Fauster
Research Services
Chemische Analyse und Oberflächenmessungen von organischen und anorganischen Feststoff- und Dünnschichtproben
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
AFM Mikroskopie, Strukturanalyse und chemische Analyse von Kunststoffen
Nutzungsbedingungen nach Absprache