Kurzbeschreibung
Die Focused Ion Beam (FIB) Helios 5 PFIB CXe bietet neben der Möglichkeit des Schneidens mikroskopisch kleiner Proben im Xe-Ionenstral, auch chemische Analysen. Das Großgerät ist zusätzlich ausgestattet mit einem EDX-Detektor für energiedispersive Röntgenspektrometrie, wie auch mit einem Flugzeit-Massenspektrometer von der Fa. Tofwerk. Weiteres bietet das FIB die Möglichkeit, Proben in einem gekühlten Zustand (Temperaturen bis ca. Flüsstigstickstoff-Temperaturen) zu untersuchen bzw. mit dem Ionenstrahl zu schneiden.
Ansprechperson
Megan Cordill
Research Services
electron microscopy
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Die Focused Ion Beam (FIB) Helios 5 PFIB CXe bietet neben der Möglichkeit des Schneidens mikroskopisch kleiner Proben im Xe-Ionenstral, auch chemische Analysen. Das Großgerät ist zusätzlich ausgestattet mit einem EDX-Detektor für energiedispersive Röntgenspektrometrie, wie auch mit einem Flugzeit-Massenspektrometer von der Fa. Tofwerk. Weiteres bietet das FIB die Möglichkeit, Proben in einem gekühlten Zustand (Temperaturen bis ca. Flüsstigstickstoff-Temperaturen) zu untersuchen bzw. mit dem Ionenstrahl zu schneiden.