Kurzbeschreibung
Es handelt sich um einen direkten Elektronendetektor (hybrid pixel detector) basierend auf der TimePix 3 Technologie, installiert in einem eigens dafür vorgesehenen Rasterelektronenmikroskop (Zeiss LEO 1530). Detektoraufnahmebedingungen sowie Elektronenstrahlkontrolle können, unabhängig voneinander, extern gesteuert werden. Dies ermöglicht positionsaufgelöste, zeitaufgelöste und energieaufgelöste Messungen von Elektronen-Proben Interaktionen. Klassische Anwendungen beinhalten lokal aufgelöste Struktur und Dehnungsanalysen in elektronentransparenten Materialien (<50nm Dicke). Vorhanden mechanische Testaufbauten können in das Mikroskop integriert werden, um die Untersuchungen während verschiedener Belastungsszenarien durchzuführen.
Ansprechperson
Daniel Kiener
Research Services
Dient zur Untersuchung von atomaren Prozessen und Defekten in dünnen Lamellen, wie sie üblicherwiese im Transmissionselektronenmikroskop durchgeführt würden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Dieser Detektor in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop wird zur detailierten Defektanalyse auf Nanometerebene sowie zur Charakterisierung diverser Verformungs- und Transformationsprozesse während mechanischer oder thermischer Beanspruchung herangezogen. Je nach Aufgabenstellung reicht die Anwendung von einfacher Bildgebung bis hin zur Analyse einzelner Elektronen-Material-Interaktionen.