Kurzbeschreibung
Charakterisierung von Oberflächen und Nanostrukturen mittels winkelauflösendem Röntgen-Photoelektronenspektrometer
-Winkelauflösender Analysator für zerstörungsfreie Tiefenprofilierung in (Sub)-Nanometerbereich
-Monochromatische Röntgenquelle für XPS,
-Heliumlampe für UPS
-Elektronenquelle für Auger-Meitner Elektronenspektroskopie
-Schleuse, Präparationskammer
-Ionenzerstäubung zur Oberfächenreinigung
-Probenheizung
-Möglichkeit zur Probenkontaktierung
Ansprechperson
Ao.Univ.Prof. Dr.techn. Wolfgang Werner
Research Services
Ultrahochvakuumsystem mit Schleuse, Präparationskammer und Analysenkammer. Die Analysenkammer enthält eine monochromatische Röntgenquelle und einen Energieanalysator .
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Charakterisierung von Oberflächen und Nanostrukturen mittels winkelauflösendem Röntgen-Photoelektronenspektrometer
NIST, national Institute of Standards and Technology (DOE), Gaithersburg, MD, US
CERN, Centre Europeene du Recherche Nucleaire, Genf (CH)