Kurzbeschreibung
Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) ist eine Methode zur Bestimmung der Elementzusammensetzung und der Bindungszustände von Oberflächen. Das Messprinzip beruht auf dem photoelektrischen Effekt: durch Röntgenstrahlung bekannter Energie werden Elektronen aus der Atomhülle gelöst. Über die Messung der kinetischen Energie der Elektronen kann anschließend die Bindungsenergie bestimmt werden. Insgesamt werden nur Elektronen aus den oberen Monolagen (3-10 nm) detektiert, d.h. XPS ist eine sehr oberflächensensitive Technik. Zusätzlich ermöglicht unser Gerät die Durchführung von Tiefenprofilanalysen sowie Raman-spektroskopischen Messungen.
Ansprechperson
Univ. Prof. Dr. Thomas Grießer
Research Services
Forschungskooperationen sowie Auftragsmessungen sind möglich. Bitte kontaktieren Sie bei Interesse Univ. Prof. Dr. Thomas Grießer.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Der Lehrstuhl für Chemie der Kunststoffe verfügt über grundlegende Expertise auf dem Gebiet der Oberflächenanalyse mittels XPS