Kurzbeschreibung
Rasterkraftmikroskop nach der Scanning Cantilever Methode.
Für Forschungsarbeiten zur Weiterentwicklung der Gerätetechnologie: Neue Messmoden, Verbesserung der Genauigkeit, Präzision, Messgeschwindigkeit und Handhabung.
- Geeignet für Messung größerer Proben (einige 100 mm Durchmesser).
- Scan Kopf für schnelle Kraftmikroskopiemessungen (Fasc Scan)
- Messmoden für nano-mechanische Charakterisierung (QNM)
Ansprechperson
Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.sc.techn. Georg Schitter
Research Services
Instrumentierung und Beratung für Nanomesstechnik.
Bei Interesse bitte bei Georg Schitter (schitter@acin.tuwien.ac.at) melden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Rasterkraftmikroskopie (AFM).
diverse Messmoden (contact, tapping, QNM, KFM, MFM)
wissenschaftliche Instrumentierung, Geräteentwicklung
Bei Interesse bitte bei Georg Schitter (schitter@acin.tuwien.ac.at) melden.
Momentan keine externen Kooperationspartner*innen