Kurzbeschreibung
Charakterisierung von Oberflächen mittels Röntgenphotoelektronen. Analyse der Oberflächenatome bzw. des chemischen Bindungszustandes der Atome an der Oberfläche. Messungen können in Echtzeit nahe beim Umgebungsdruck gemacht werden (zB bei 20 mbar). Probenhalter für Tieftemperaturexperimente (bis ca. -180°C) sowie Hochtemperaturexperimente (bis ca. +500°C) sind verbaut. Ebenfalls können elektrochemische Messungen unter Spannung durchgeführt werden.
Ansprechperson
Thomas Lörting
Research Services
Die Forschungsinfrastruktur ist "Open for Collaboration". Kommerzielle Kooperationen sind zu einem kleinen Teil möglich.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Mit dem NAP-XPS wird über winkelaufgelöste Messungen die Elektronenstruktur von Oberflächen gemessen - dies erlaubt Aussagen über die Elementzusammensetzung der Oberfläche sowie über den chemischen Bindungszustand. Hauptnutzer sind Prof. Kunze-Liebhäuser, Prof. Klötzer, Prof. Beyer und Prof. Lörting. Die Bandbreite der gemessenen Materialien reicht von Tieftemperatur-Proben (zB Eis, Schnee, gefrorene Impfstoffe, ...) bis zu Hochtemperatur-Proben (zB metallische und oxidische Katalysatoren) und Proben in elektrochemischer Umgebung (zB Elektroden, galvanische Zellen).
https://pubs.aip.org/aip/rsi/article/94/6/065104/2895993/A-laboratory-based-multifunctional-near-ambient
https://doi.org/10.1063/5.0151755