Kurzbeschreibung
Spektralellipsometer mit variablem Einfallswinkel VASE (NIR-VIS-UV:190-1650nm; IR:300-7500cm-1)
Ansprechperson
Univ.-Prof. DI Dr. Kurt Hingerl
Research Services
Materialanalytik mit (außer)universitären Forschungseinrichtungen und Industrie im Rahmen von wissenschaftlichen Kooperationsprojekten
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Die spektroskopische Ellipsometrie wird zu Bestimmung der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Oberflächen mit Monolagensensitivität genutzt (Oberflächenphysik/Analytik).
Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur
Für Details kontaktieren Sie bitte die verantwortliche Person. Kontaktdaten auf der JKU Webseite http://www.jku.at/zona/
voestalpine
EVG
TU Wien
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TU Wien