Kurzbeschreibung
Ein Rasterelektronenmikroskop (REM) dient zur Untersuchung der Mikrostruktur und chemischen Zusammensetzung von Metallen und einer Reihe von organischen und anorganischen Materialien. Ein durch ein elektromagnetisches Linsensystem fein fokussierter Elektronenstrahl wird dabei über die zu untersuchende Probe gerastert, die sich in der Probenkammer im Hochvakuum befindet. Durch die Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit der Probe werden verschiedene Signale erzeugt, welche mittels unterschiedlicher Detektoren erfasst werden können. Diese Signale liefern nicht nur Informationen über die Oberflächentopographie, sondern auch über die chemische Zusammensetzung und Mikrostruktur.
Ansprechperson
Gerhard Hawranek
Research Services
Das Gerät kann für Forschungsdienstleistungen für Gefügeuntersuchungen mittels REM und EDX genutzt werden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Charakterisierung von Gefügen und Oberflächen.