Kurzbeschreibung
Der Astraios winkelaufgelöste Photoelektronen Energieanalysator für Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Ultravioletphotoelektronenspektroskopie (UPS) dient zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Festkörperoberflächen, -grenzflächen und Adsorbaten. Der erfassbare Winkelbereich beträgt +/- 30 Grad sowohl in polarer als auch azimutaler Richtung. Er ist damit besonders zur Messungen der Photoemissions Orbital Tomographie (POT) geeignet.
Ansprechperson
Georg Koller
Research Services
Mit dieser Forschungsinfrastruktur können Proben direkt in-situ Ultrahochvakuum hergestellt und mit Hilfe des Photoelektronenspektrometers untersucht werden. Mittels winkelaufgelöster Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie können die elektronischen Eigenschaften (Bandstruktur) von einkristallinen Metallsubstraten, dünnen Oxidschichten oder organischen Dünnfilmen charakterisiert, sowie die Orbitale molekularer Adsorbat-Systeme im Impulsraum dargestellt werden. Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) gestattet es auch die chemische Zusammensetzung von Oberflächen und Grenzflächen zu messen.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Mit dieser Forschungsinfrastruktur werden die elektronischen Eigenschaften (Bandstruktur) von einkristallinen Metallsubstraten, dünnen Oxidschichten oder organischen Dünnfilmen charakterisiert. Der große Akzeptanzwinkel des Spektrometers erlaubt die Aufnahme von Impulskarten der Photoelektronen über einen großen Bereich. Dies ist ideal für Photoemissions Orbital Tomographie, eine Methode zur Untersuchung der Orbitalstruktur von organischen Adsorbat-Metall Grenzflächen.