Kurzbeschreibung
Ein Röntgendiffraktometer (XRD) ist ein Gerät, das Beugungsphänomene von Röntgenstrahlung misst und wird in der Kristallographie zur Aufklärung von Strukturen (Kristallstrukturanalyse) sowie zur Identifizierung der jeweiligen Probe eingesetzt. Dabei macht man sich zunutze, dass die Wellenlänge der Röntgenstrahlung im Bereich eines Atomabstandes liegt (0,1–0,3 nm). Gemäß der Braggschen Gleichung wird ein Röntgenstrahl, der auf einen Kristall trifft, so gebeugt, dass Reflexe an diskreten Orten im Raum auftreten. Das Diffraktometer detektiert nun Ort und Intensität der auftretenden Reflexe.
Ansprechperson
FH-Prof. Priv.-Doz. Dipl.-Ing. Dr.mont. Gernot Zitzenbacher
Research Services
Bitte um Rücksprache mit dem Projektleiter!
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Werkstoffcharakterisierung
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