Kurzbeschreibung
Xe-Plasma FIB (Tescan Amber X) mit Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für ein breites Anwendungsspektrum einschließlich energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Rückstreuelektronenbeugung.
Ansprechperson
Priv. Doz. DI Dr. Heiko Groiß
Research Services
Untersuchungen und FIB-Experimente an Mikro- und Nanostrukturen im Rahmen von Grundlagenforschungsprojekten, öffentlich geförderten Firmenprojekten und Auftragsforschung.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Materialcharakterisierung von kristallinen (Halbleiter bis Stahl) und organischen (Polymere) Materialien durch REM-Abbildung, Elektronenbeugung und Spektroskopie. Anwendungen für FIB-Tomographie, TEM-Lamellenpräparation und Materialbearbeitung im Nanometerbereich.
Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur
Für Details kontaktieren Sie bitte die verantwortliche Person. Informationen und Kontaktdaten finden Sie auf der JKU Webseite unter https://www.jku.at/zentrum-fuer-oberflaechen-und-nanoanalytik-zona/