Elektronen-Energieverlust-Spektrometer und Image Filter GIF Tridiem

Technische Universität Wien (TU Wien)

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Open for Collaboration

Kurzbeschreibung

Das "GIF Tridiem System" ist ein analytischer Zusatz zum TECNAI F20 FEGTEM. Das System ermöglicht Elektronenenergieverlustspektrometrie (EELS) und energieaufgelöste Abbildung (EFTEM).

Ansprechperson

Privatdoz. Dipl.-Ing. Dr.techn. Michael Stöger-Pollach

Research Services

Die Forschungs-Facility USTEM ist die zentrale Einrichtung der TU Wien für analytische und hochauflösende elektronenmikroskopische Untersuchungen. USTEM unterstützt Angehörige der TU Wien oder von anderen Forschungseinrichtungen bei der Durchführung von Projekten im Rahmen der Forschungsförderung oder Auftragsforschung und bietet Dienstleistungen für Firmen oder externen Kunden mit Operatorunterstützung. Die Schwerpunkte von USTEM sind Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Focused Ion Beam (FIB) Anwendungen.

Spezielle Services mit GIF Tridiem System
- Chemische Mikroanalyse mittels Energieverlustspektrometrie (EELS), speziell geeignet für die Detektion von leichten Elementen
- Image Filterung (elementspezifische Abbildungen oder zero-loss-Filterung)
- Arbeitsbereich bei Beschleunigungsspannungen von 20 kV bis 200 kV

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Chemische Mikroanalyse mittels Energieverlustspektrometrie (EELS), Image Filterung, Arbeitsbereich von 60 kV bis 200 kV.

Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur

TU Wien Forschungszentrum für Elektronenmikroskopie - USTEM

Nutzungsbedingungen

Im Allgemeinen werden die Untersuchungen durch Mitarbeiter von USTEM durchgeführt. Angehörige der TU Wien können jedoch die Geräte für ihre Lehre und für die Durchführung von Forschungsprojekten auch selbständig nach Einweisung und erfolgreicher Absolvierung eines Kurses benutzen.

Kooperationspartner

AC2T research GmbH - Österreichisches Kompetenzzentrum für Tribologie
AIT - Austrian Institute of Technology
CERN
crystalsol GmbH
Carinthian Tech Research AG
ON Semiconductor (Formerly Fairchild)
Fraunhofer Institut für Solare Energiesysteme Freiberg
Habich GmbH
LKR Leichtmetallkompetenzzentrum Ranshofen GmbH (AIT-Tochter)
STRONG Ges.m.b.H.
Montanuniversität Leoben
Universität Salzburg
Universität Innsbruck
Universität Wien
Universität Bielefeld
Vienna Biocenter Core Facilities GmbH (VBCF)

Referenzpublikationen

Valence EELS below the limit of inelastic delocalization using conical dark field EFTEM or bessel beams. (2017). Stöger-Pollach, M., Schachinger, T., Biedermann, K., & Beyer, V.Ultramicroscopy, 173, 24-30. doi:10.1016/j.ultramic.2016.11.022

Structural and magnetic properties of strongly carbon doped fe-co thin films. (2015). Giannopoulos, G., Reichel, L., Markou, A., Wallisch, W., Stöger-Pollach, M., Panagiotopoulos, I., . . . Niarchos, D.Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 393, 479-483. doi:10.1016/j.jmmm.2015.06.018

Is magnetic chiral dichroism feasible with electron vortices? (2014). Schattschneider, P., Löffler, S., Stöger-Pollach, M., & Verbeeck, J. Ultramicroscopy, 136, 81-85. doi:10.1016/j.ultramic.2013.07.012

EMCD real space maps of magnetospirillum magnetotacticum. (2011). Stöger-Pollach, M., Treiber, C. D., Resch, G. P., Keays, D. A., & Ennen, I. Micron, 42(5), 456-460. doi:10.1016/j.micron.2011.01.003

Energy loss magnetic chiral dichroism: A new technique for the study of magnetic properties in the electron microscope (invited). (2008). Schattschneider, P., Rubino, S., Stoeger-Pollach, M., H́bert, C., Rusz, J., Calmels, L., & Snoeck, E. Journal of Applied Physics, 103(7) doi:10.1063/1.2836680