Kurzbeschreibung
Rasterkraftmikroskop nach der Scanning Cantilever Methode.
Für Forschungsarbeiten zur Weiterentwicklung der Gerätetechnologie: Neue Messmoden, Verbesserung der Genauigkeit, Präzision, Messgeschwindigkeit und Handhabung.
- Geeignet für Messung größerer Proben (einige 100 mm Durchmesser).
- Scan Kopf für schnelle Kraftmikroskopiemessungen (Fast-Scan)
- Messmoden für nano-mechanische Charakterisierung (QNM)
Ansprechperson
Univ.Prof. Dipl.Ing. Univ. Dr.-Ing. Walter Michael Weber
Research Services
Instrumentierung für Nanomesstechnik. Analyse von Oberflächentopologie im Nanometerbereich.
Bei Interesse bitte bei Walter Weber (walter.weber@tuwien.ac.at) melden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Rasterkraftmikroskopie (AFM).
diverse Messmoden (contact, tapping, QNM, KFM, MFM)
wissenschaftliche Instrumentierung, Geräteentwicklung