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Großgerät

IRIS Scanner (kombiniertes RFA- und Reflectance Spectral Imaging Spektrometer) & ESPRIT-REVEAL Auswerte-Software

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Akademie der bildenden Künste Wien

Wien | Website

Open for Collaboration

Kurzbeschreibung

Der IRIS-Scanner ist ein innovatives, portables Gerät zum großflächigen und simultanen Scannen von Kunstobjekten mithilfe der RFA (Röntgenfluoreszenzanalyse) und RSI (Reflectance Spectral Imaging im Vis-NIR-SWIR Bereich).

Mit dem Gerät sind zerstörungsfreie und nicht-invasive Analysen von flachen Kunstwerken (Gemälde, Bücher) möglich. Die Kunstobjekte können in einem Abstand zum Gerät von 1 cm in vertikaler oder horizontaler Position gemessen werden. Simultanes Scannen mit RFA (Rh-Röhre) und Reflectance Spectral Imaging liefert gleichzeitig element- und molekülspezifische Informationen, wodurch anorganische und organische Bestandteile an Kunstobjekten erfasst und anhand Hyperspectral Images dargestellt werden.

Maximale Scanfläche beträgt 60 cm x 40 cm mit einer Geschw. von 42 mm/s. Reflectance Spectral Imaging deckt den Wellenlängenbereich von 400 bis 2500 nm ab.

Ansprechperson

DI Dr. Dubravka Jembrih-Simbürger

Research Services

Institut für Naturwissenschaften und Technologie in der Kunst (INTK) und Core Facility „Zentrum für Materialwissenschaften in Kunst und Konservierung (ZMKK)“ sind zentrale Einrichtungen der Akademie der bildenden Künste Wien für naturwissenschaftliche (Material) Analyse von Kunstwerken. Die Einrichtungen unterstützen Angehörige der Akademie der bildenden Künste Wien oder anderen Forschungseinrichtungen, Museen, Bibliotheken, Archiven, etc. bei der Durchführung von gemeinsamen Projekten im Rahmen der Forschungsförderung oder Auftragsforschung und bietet auch Dienstleistungen (Drittmittel) für Externe.

Die Schwerpunkte liegen in naturwissenschaftlichen Analysen von Kunstwerken und Archivmaterialien mittels FTIR, Raman, RFA, UV-Vis, HSI, RSI, ESEM (EDX), Py-GC/MS, digitale Röntgenradiografie und Fotodokumentation (Vis, UV, IR, IRR), Mikroskopie, Anlagen zur beschleunigten Alterung von Proben im Kunstbereich.

Spezielle Services mit dem IRIS Scanner (Simultanes RFA & Reflectance Spectral Imaging):

• Zerstörungsfreie, nicht-invasive und simultane RFA & RSI Scann-Analysen direkt am Kunstobjekt
• Chemische Elementanalyse mittels Röntgenfluoreszenzanalyse (Punktanalysen oder Elementverteilungsbilder bei Scananalysen) – Pigmentcharakterisierung und Visualisierung der Pigmentverteilung
• Röntgenstrahldurchmesser variabel: 0,5 mm, 1 mm, 2 mm
• Reflectance Spectral Imaging im Wellenlängenbereich von 400 nm – 2500 nm (VIS-NIR-SWIR), molekülspezifische Information, Erfassung von organischen Bestandteilen
• Geeignet für Gemälde (flache, gerade und nicht gewölbte Oberflächen), Bücher, Zeichnungen, Karten, Grafiken usw.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Zerstörungsfreie und nicht-invasive Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA, Rh-Röhre) und Reflectance Spectral Imaging Scan-Analysen (400 - 2500 nm) von Kunstwerken (z.B. Gemälde, Bücher, Grafiken, Zeichnungen, etc.). Simultanes Scannen mit RFA & RSI, max. Scanfläche 60 x 40cm2. Pigment-, Tinten- und Bindemittelcharakterisierung.

Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur

Zentrum für Materialwissenschaften in Kunst und Konservierung (ZMKK)

Nutzungsbedingungen

Im Allgemeinen werden die Untersuchungen durch Mitarbeiter_innen des Instituts für Naturwissenschaften und Technologie in der Kunst (INTK) / Zentrum für Materialwissenschaften in Kunst und Konservierung (ZMKK) der Akademie der bildenden Künste Wien, durchgeführt. Es besteht jedoch die Möglichkeit, dass Angehörige anderer Universitäten mit einschlägiger Ausbildung und unter bestimmten Voraussetzungen die Geräte für die Durchführung von Forschungsprojekten auch selbständig nach Einweisung und erfolgreicher Absolvierung eines Kurses benutzen.

Kontakt

DI Dr. Dubravka Jembrih-Simbürger
Institut für Naturwissenschaften und Technologie in der Kunst
+43 1 58816 8617
D.Jembrih-Simbuerger@akbild.ac.at
https://www.akbild.ac.at/de/institute/naturwissenschaften-und-technologie-in-der-kunst/institut

Standort

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