Rasterelektronenmikroskop FEI QUANTA 200 mit Oxford EDX-Detektor
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Rasterelektronenmikroskop (Wolframkathode) mit Rückstreuelektronen-, Sekundärelektronen- und EDX-Dektor für manuelle und automatisierte Analysen
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Das VistaScope 75 kombiniert Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit photoinduzierten Kräften (PiF), um chemische und Oberflächenmessungen von...
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Optisches Gerät zur Strukturierung von Photolacken
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