
Rasterelektronenmikroskop mit Xe-Ionenfeinstrahl + Softwareerweiterung MapSweeper
JKU - Johannes Kepler Universität Linz
Xe-Plasma FIB (Tescan Amber X) mit Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für ein breites Anwendungsspektrum einschließlich energiedispersiver Röntgenspektroskopie und...