STM Variabeltemperatur-Rastertunnelmikroskop
University of Innsbruck
Variabletemperatur STM mit AES
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Variabletemperatur STM mit AES
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Oberflächen- und Materialanalyse: Chemische Zusammensetzung und Tiefenprofile mit Auflösung im nm-Bereich, Ortsauflösung (lateral) ca. 100...
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Das OPO/OPA System EKSPLA NT242 erzeugt kohärente Lichtpulse mit einer Wiederholrate von 1kHz und einer...
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Höchstauflösendes Fouriertransformations-Ionenzyklotronresonanz (FT-ICR) Massenspektrometer, 9.4 Tesla supraleitender Magnet, Bruker Dual Source II mit Elektrosprayionisation (ESI),...
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Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und...
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Das ACQUITY Arc System ist ein modernes, quaternäres HPLC/UPLC System, verbunden mit einem PDA Detektor,...
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Die Hochdruck-Pressanlage der Marke Hofer (Kolbendurchmesser Ø 25 mm, 95 mm Hub) dient der Untersuchung...
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The DLC pro is a platform driving all tunable diode lasers of TOPTICA. One controller...
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Lineare Paulfalle zur Quanteninformationsverarbeitung
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Femtosekunden Lasersystem mit optischen parametrischen Verstärker
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Das VERTEX 70v ist ein FT-IR-Spektrometer mit einem Messbereich im Fern- und Mittel-Infrarotspektrum von 6000...
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TOPTICA Diodenbasierter Festkörperlaser mit Emission bei 729 nm, stabilisiert auf einen optischen Resonator hoher Güte....
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Wassergekühlter, rauscharmer DPSS (Diodengepumpter Festkörper) Dauerstrich Laser mit 18W optischer Leistung bei 532nm mit <5MHz...
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Konfokales Laserscanning-Mikroskop in optischer Standardausstattung mit high sensitivity detection (HyD) und filterloser Auswahl des Anregungs-...
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Nicht-invasives Verfahren zur Bestimmung bohrkernphysikalischer Parameter in hoher vertikaler Auflösung
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Inverses Konfokalmikroskop mit manueller Spinning-Disk-Einheit, Typ Zeiss Cell Observer SD Ausstattung: zwei Kameras (sCMOS Ocra...
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Oberflächenabb. und Charakterisierung mechanischer und elektronischer Oberflächeneigenschaften
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JSM-7610F - FE-REM Schottky Feld Emissions Rasterelektronenmikroskop für Nanotechnologie Mit dem Rasterelektronenmikroskop können kleinste Strukturen...
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Bei dieser Anlage handelt es sich um eine Ultrahochvakuum-Dünnfilmbeschichtungsanlage zur Abscheidung von dünnen (~100 nm)...
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Das Fotodetektorsystem Single Quantum Eos besteht aus 7 Modulen mit supraleitenden Nanodrähten zur Detektion von...